روش های سنتز، آنالیز و کاربردهای لایه های نازک

Slides:



Advertisements
Similar presentations
Auger Electron Spectroscopy
Advertisements

Outline Curriculum (5 lectures) Each lecture  45 minutes
Focused ion beam (FIB) 1.Overview. 2.Ion source and optics. 3.Ion-solid interaction, damage. 4.Scanning ion beam imaging. ECE 730: Fabrication in the nanoscale:
For the exclusive use of adopters of the book Introduction to Microelectronic Fabrication, Second Edition by Richard C. Jaeger. ISBN © 2002.
Surface Treatments ME 355 Bill Pedersen. Major Surface Treatments  Finishing and Polishing – covered previously  Coatings  Conversion Coatings (oxidation,
XPS and SIMS MSN 506 Notes.
MSE-630 Dopant Diffusion Topics: Doping methods Resistivity and Resistivity/square Dopant Diffusion Calculations -Gaussian solutions -Error function solutions.
1 AP 5301 / 8301 Instrumental Methods of Analysis Course Coordinator: Prof. Paul K. Chu Electronic mail: Tel: Fax:
Surface Characterization by Spectroscopy and Microscopy
The Deposition Process
Thin Film Deposition Prof. Dr. Ir. Djoko Hartanto MSc
Department of Electronics Nanoelectronics 10 Atsufumi Hirohata 10:00 Tuesday, 17/February/2015 (B/B 103)
Composition and thickness dependence of secondary electron yield for MCP detector materials Slade J. Jokela, Igor V. Veryovkin, Alexander V. Zinovev, Jeffrey.
1 Thin films are thin material layers ranging from fractions of a nanometre to several micrometres in thickness.layers nanometremicrometres Ferromagnetic.
Ion implanter – HV terminal 500 kV a number of Nielsen and RF ion sources for gaseous and solid materials mass analysis better than 1 a.m.u. beam current.
Basic Nanotechnology EHS Awareness Basics of Chemical and Material Properties—Role of Scale Basics of Chemical and Material Properties—Role of Scale Chemical.
Advanced Analytical Chemistry – CHM 6157® Y. CAIFlorida International University Updated on 9/28/2006Chapter 6Electron Spectroscopy Chapter 6 Electron.
Techniques for Synthesis of Nano-materials
Virtual NanoFab A Silicon NanoFabrication Trainer
Reminders Quiz#2 and meet Alissa and Mine on Wednesday –Quiz covers Bonding, 0-D, 1-D, 2-D, Lab #2 –Multiple choice, short answer, long answer (graphical.
Dry Etching + Additive Techniques
NanoFab Trainer Nick Reeder June 28, 2012.
Introduction EE1411 Manufacturing Process. EE1412 What is a Semiconductor? Low resistivity => “conductor” High resistivity => “insulator” Intermediate.
NANO 225 Intro to Nano/Microfabrication
Vacuum Technology.
FNI 2A Tools1 Tools of Nanoscience Microscopy  Optical  Electron SEM TEM  Scanning Probe STM AFM NSOM Spectroscopy  Electromagnetic  Mass  Electron.
6_thermal.cfm.
Layer characterization
…plating By Rocio SANCHEZ. Definition The process used to cover zinc with copper in making coinage involves using direct-current (DC) electricity, which.
Electrolysis Splitting Materials via Energy. What is electrolysis? Process of forcing current through a cell to produce a chemical change Results in negative.
Thin Film Deposition. Types of Thin Films Used in Semiconductor Processing Thermal Oxides Dielectric Layers Epitaxial Layers Polycrystalline Silicon Metal.
The composition and structure of Pd-Au surfaces Journal of Physical Chemistry B, 2005, 109, C. W. Yi, K. Luo, T. Wei, and D. W. Goodman Bimetallic.
Mar 24 th, 2016 Inorganic Material Chemistry. Gas phase physical deposition 1.Sputtering deposition 2.Evaporation 3.Plasma deposition.
Sputtering. Why? Thin layer deposition How? Bombarding a surface with ions which knocks out molecules from a target which in turn will redeposit onto.
SURFACE TREATMENT AN OVERVIEW
Top Down Method The Deposition Process Author’s Note: Significant portions of this work have been reproduced and/or adapted with permission from material.
Nanotechnology Research Leo Lau Materials Science & Technology Research Centre The Chinese University of Hong Kong.
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Process integration 2: double sided processing, design rules, measurements
Surface Analysis and Materials Engineering Research Group
Thin Film Deposition Processes
CMOS Fabrication CMOS transistors are fabricated on silicon wafer
Date of download: 10/17/2017 Copyright © ASME. All rights reserved.
THE EFFECT OF SPIN COATING RATE ON MICROSTRUCTURES OF CUPROUS OXIDE THIN FILM PREPARED BY SOL-GEL TECHNIQUE DEWI SURIYANI BT CHE HALIN School of Material.
A Study on Aluminum Oxide (Al2O3) Insulator Deposited by Mist-Chemical Vapor Deposition based on atmospheric pressure Dong-Hyun Kim1,Hyun-Jun Jung1 and.
Some Basic Chemistry.
Lecture 4 Fundamentals of Multiscale Fabrication
CNR-Istituto del Sistemi Complessi, Roma
Department of Electronics
Surface Analysis of Graphite Limiter and W-coating Testing on HT-7
X-Ray Photoelectron Spectroscopy of MgO on Graphene
PVD & CVD Process Mr. Sonaji V. Gayakwad Asst. professor
SYNTHESIS AND CHARACTERIZATION OF SILICA THIN FILMS
STM Studies of Gold Clusters in nanometer-sized graphite pits
Spectroscopy.
VLSI System Design LEC3.1 CMOS FABRICATION REVIEW
1.6 Magnetron Sputtering Perpendicular Electric Magnetic Fields.
Basics Semiconductors
A sample is injected into the spectrometer and heated to a vapour.
Characterization of Thin Films
Photoelectron Spectroscopy
Determining Composition through X-Ray Photoelectron Spectroscopy
Chap 8 Analytical Instruments
Studies of the Interfaces between Conjugated Oligomers and Self-Assembled Monolayers James E. Whitten, Department of Chemistry and Center for Advanced.
Nanocharacterization (II)
Study of SEY Degradation of Amorphous Carbon Coatings
AP 5301 / 8301 Instrumental Methods of Analysis
Ophelia K. C. Tsui, Department of Physics, Boston University
Power Electronics: cooking up group IV semiconductor materials.
Surface analysis techniques part I
Presentation transcript:

روش های سنتز، آنالیز و کاربردهای لایه های نازک صفورا کفاش یزدی، محمدهادی مقیم

نانوساختارها لایه های نازک سوم

روش های اصلی سنتز لایه نازک روشهای سنتز لایه های نازک به دو دسته عمده روش های فیزیکی و روش های شیمیایی تقسیم بندی می شوند. این روش ها بسته به پروسه اعمال لایه، منبع انرژی و محیط اعمال لایه نامگذاری می شود. در این بین، روش های لایه نشانی بخار شیمیایی جزء متنوع ترین روش های لایه نشانی می باشند.

روش های فیزیکی روش های فیزیکی (Physical Method): روش تبخیری (Evaporation) روش پراکنش یا کند و پاش (Sputter deposition)

روش تبخیری در روش تبخیری ماده مورد نظر، درون محفظه ای با فشار معین (معمولاً فشار کمتر از 1 اتمسفر) قرار می گیرد. سپس با اعمال حرارت، تبخیر شده و بخار حاصل بر روی زیر لایه کندانس می شود. در این روش، نوع و شکل فیلامان گرم کننده روی سرعت پوشش دهی و خصوصیات لایه تشکیل شده تاثیر می گذارد. در انتخاب فیلامان بایستی دقت نمود که فشار بخار فیلامان بایستی از فشار بخار تارگت مورد نظر بیشتر باشد تا به هنگام تبخیر تارگت، فیلامان همراه با آن تبخیر نشود. از جمله موادی که با این روش لایه نشانی می شوند آلومینیوم،کروم، مس، طلا، نیکل، کادمیم، پالادیم، تیتانیم، مولیبدن، تنگستن و تانتالیم می باشد. معمولاً فیلامان ها از یک ماده دیر گداز نظیر تنگستن، مولیبدن یا گرافیت انتخاب می شوند.

شماتیک قرارگیری منبع و زیرلایه در روش تبخیری شماتیک روش تبخیری شماتیک قرارگیری منبع و زیرلایه در روش تبخیری

واحد تبخیر پرتو الکترونی روش پرتو الکترونی چنانچه هدف، ساخت لایه های نازک دیرگداز مثل تنگستن و تانتالیم باشد، بایستی از روش قوس الکتریکی برای تبخیر تارگت استفاده نمود. در تکنولوژی های بالاتر، از روش پرتو الکترونی با انرژی بالا (Electron Beam Evaporation) جهت تبخیر ماده استفاده می شود. در این روش با کنترل ولتاژ شتاب دهنده الکترون، انرژی پرتو الکترونی تنظیم شده و حرارت به صورت متمرکز بر روی تارگت اعمال می گردد. واحد تبخیر پرتو الکترونی

روش پراکنش(کندوپاش) در روش پراکنش، برخورد یون های سنگین و بی اثر مثل آرگون، که در یک میدان الکتریکی شتاب پیدا کرده اند، باعث کندن اتمهای تارگت از سطح و تبخیر آن درون محفظه خلا می شود. سپس این اتم های پراکنده شده بر روی سطح زیرلایه، کندانس می شوند. برای تولید لایه های نازک آلیاژی، روش پراکنش مناسب تر از روش تبخیر می باشد. زیرا در روش تبخیری به علت اختلاف فشار بخار جزئی عناصر، دستیابی به لایه نازک با درصد آلیاژی مشخص بسیار مشکل می باشد. برای تولید لایه های ترکیبات اکسیدی، نیتریدی و یا سولفیدی می توان به همراه گاز آرگون، مقادیری اکسیژن، نیتروژن و یا گوگرد وارد محفظه نمود.

شماتیک ساده سیستم پراکنش شماتیک سیستم پراکنش شماتیک ساده سیستم پراکنش

روش های شیمیایی روش های شیمیایی(Chemical Method): رسوبدهی شیمیایی بخار(CVD:Chemical Vapor Deposition)   آبکاری الکتریکی(Electroplating) آبکاری الکترولیز(Electroless Plating)

رسوبدهی شیمیایی بخار در روش رسوبدهی شیمیایی بخار، ماده اولیه (Precursor) درون رآکتور قرار می گیرد. سپس، جریان گاز حاوی ماده اولیه که تجزیه شیمیایی شده است، روی زیر لایه کندانس شده و لایه نازک را تولید می کند و در آخر گازها و مواد زائد از درون محفظه خارج می شوند. پوشش تولیدی در این روش، دانسیته و خلوص بالایی داشته و جهت کاربردهایی نظیر قطعات الکترونیکی، لایه های نازک نیمه رسانا، لایه های نازک برای ابزار برشی و صنایع هوا-فضا استفاده می شود. این روش برای انواع مواد شامل عناصر، آلیاژها، نیتریدها، اکسیدها، نانوکامپوزیت ها، نیمه رساناها و ترکیبات بین فلزی مناسب می باشد.

شماتیک انتقال گاز در روش CVD

آبکاری الکتریکی تجهیزات روش آبکاری الکتریکی که از روشهای الکتروشیمیایی می باشد، شامل منبع انرژی، کاتد (فلز زیرلایه)، آند (مصرفی یا غیر مصرفی) و حمام الکترولیت، حاوی یون های لایه نازک مورد نظر، می باشد. در اثر اختلاف پتانسیل بین کاتد وآند، یون های مثبت فلز در محلول الکترولیت به سمت کاتد رفته و با گرفتن یک یا چند الکترون، به اتم فلزی تبدیل می شوند و به صورت یک لایه روی کاتد (زیرلایه) می نشینند. از طرف دیگر یون های منفی به آند رفته و با از دست دادن الکترون های خود به آند، به یک نمک محلول تبدیل می شود و به محلول باز می گردد. الکترون های جامانده در آند از طریق منبع تغذیه به کاتد می روند و به این ترتیب، جریان الکتریکی در مدار برقرار می شود. نتیجه به دام افتادن این الکترون ها، لایه نشانی یک فلز روی زیرلایه است.  

شماتیک آبکاری الکتریکی آبکاری الکتریکی با جریان مستقیم

آبکاری الکتریکی فاکتورهای مهم در این روش، pH و ترکیب شیمیایی حمام، چگالی جریان، دما و سرعت همزدن حمام می باشد. اگر پارامترهای آبکاری بدون تغییر باقی بمانند، سرعت لایه نشانی با افزایش چگالی جریان اعمالی، افزایش خواهد یافت. در نتیجه واکنش های جانبی نیز می توانند اتفاق بیفتند که این واکنش ها کارایی آبکاری الکتریکی را کاهش می دهند. از محاسن این روش، قابلیت لایه نشانی فلزات، آلیاژها، مواد کامپوزیتی و انجام فرایند لایه نشانی در دمای اتاق می باشد.

آبکاری الکترولیز اساس روش آبکاری الکترولیز، مانند روش آبکاری الکتریکی است، با این تفاوت که در روش الکترولس، احیای یون فلزی روی زیرلایه توسط یک احیاکننده و به صورت شیمیایی انجام می شود. در این روش آند و کاتد نداریم و الکترولیت، حاوی یک احیا کننده قوی، و یونی است که بایستی احیا شود. برای استفاده از آبکاری الکترولیز روی سطوح سرامیکی، دو انتخاب زبر کردن سطح یا اصلاح شیمیایی آن در دسترس می باشد. این روش بیشتر محدود به مس و نیکل است ولی بسیاری از محدودیت های روش آبکاری الکتریکی را ندارد.

مقایسه آبکاری الکترولیز و الکتریکی فناوری الکترولیز مزیت هایی نسبت به لایه نشانی الکتریکی دارد که به شرح زیر می باشد: به اتصال الکتریکی احتیاج ندارد. امکان لایه نشانی برروی سطوح نارسانا، به خوبی سطوح رسانا وجود دارد. چون خطوط میدانی وجود ندارد، رسوب ایجاد شده یکنواخت تر است. برای پوشش های سه بعدی مناسب است.

لایه نشانی به روش الکترولیز شماتیک روش الکترولیز لایه نشانی به روش الکترولیز

آنالیز لایه های نازک عمده ترین روش های آنالیز لایه های نازک: روش های آنالیز لایه های نازک همان روش های آنالیز سطح می باشد. شناسایی لایه های نازک بایستی هم از لحاظ نوع ماده، هم خصوصیات فیزیکی و هم از حیث ساختار و مورفولوژی صورت گیرد. عمده ترین روش های آنالیز لایه های نازک: XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) AES (Auger electron Spectroscopy ) SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy)

طیف شناسی فوتوالکترون اشعه ایکس(XPS) روش XPS جزء روش های طیف شناسی الکترون است که در آن پرتو ایکس با انرژی بالا به نمونه برخورد کرده و از لایه های به فاصله چند اتم از سطح نمونه، الکترون خارج می گردد. از آنجا که انرژی اتصال الکترون در لایه های اتمی (Binding Energy) برای هر عنصر، میزان مشخصی دارد، لذا شناسایی عناصر از این طریق صورت می گیرد. # در این روش علاوه بر آنالیز کمی و کیفی عناصر، شناسایی ترکیب شیمیایی مواد نیز صورت می گیرد.

نمونه کار اسپکتروسکوپ فوتوالکترون اشعه ایکس شماتیک XPS نمونه کار اسپکتروسکوپ فوتوالکترون اشعه ایکس

طیف شناسی الکترون اوژه(AES) # این روش، از روش های معمول مطالعه آنالیز سطوح است که برای بررسی شیمیایی و ترکیبی سطح از آن استفاده می شود.

اسپکتروسکوپ الکترون اوژه نمونه تجهیزات AES اسپکتروسکوپ الکترون اوژه

طیف شناسی جرمی یون ثانویه(SIMS) در روش SIMS، با استفاده از برخورد پرتو یونی (Ion Beam) و کنده شدن یون های ثانویه، نسبت جرم به بار یون ثانویه اندازه گیری می شود و از این طریق، می توان نوع عنصر و ترکیب ملکولی سطوح تا عمق 1-2 نانومتر را تعیین نمود. # روش SIMS ، یکی از روش های آنالیز ترکیبات سطوح و لایه های نازک می باشد. این روش، یکی از دقیق ترین روش های تشخیص عنصری سطوح مواد است.

مقطع عرضی ساختار ترانزیستور MOS کاربرد لایه های نازک ساخت ترانزیستورهای نیمه هادی ترانزیستور لایه نازک (TFT)، یکی از انواع ترانزیستورهای اثرمیدان است که از پوشش یک لایه نازک فعال نیمه هادی به علاوه لایه دی الکتریک و فلزی که همگی بر روی یک زیرلایه قرار گرفته اند، بدست می آید. از کاربرد های آن، ساخت ابزار نمایشی کریستال مایع می باشد. یکی از انواع این ساختارها، شامل یک لایه اکسیدی بین دو لایه فلزی و نیمه هادی (MOS:Metal-Oxide-Semiconductor Transistor) می باشد که در ماکروالکترونیک کاربرد وسیعی دارد. مقطع عرضی ساختار ترانزیستور MOS

کاربرد لایه های نازک ساخت لایه های نازک GMR (Giant Magneto Resistance) ساده ترین نوع GMRها، متشکل از یک لایه فرومغناطیس نانومتری(مثل نیکل) می باشد که روی ساختار فلزی غیر مغناطیسی(مثل مس) قرار گرفته است که با قرار گرفتن در میدان مغناطیسی، رسانایی بسیار بالایی در ماده پدید می آورد. به علت امکان افزایش شدید دانسیته ضبط مغناطیسی توسط ساختارهای GMR، در ابزارهای حافظه و ساخت هدهای مغناطیسی(Reading Heads) متداول شده اند.

نحوه کار سلول خورشیدی(سمت راست) نمونه سلول خورشیدی(سمت چپ) کاربرد لایه های نازک سلول های خورشیدی سلول های خورشیدی، سلول هایی هستند که نور خورشید را غیرمستقیم به الکتریسیته تبدیل می کند. جهت استفاده از انرژی خورشیدی، از صفحه های جمع کننده آلومینیوم-مس یا استیل گالوانیزه استفاده می شود. اما برای کمتر کردن افت گرمایی به صورت هدایت و همرفت، آنها را توسط لایه های نازک، ایزوله و ضدبازتاب می کنند. نحوه کار سلول خورشیدی(سمت راست) نمونه سلول خورشیدی(سمت چپ)