MIL-STD-883 MIL-STD-202 IEC STD JEDEC STD MIL-STD-810 MIL-HDBK-781 (2) 신뢰성시험 규격 신뢰성시험 규격 MIL-STD-883 MIL-STD-202 IEC STD JEDEC STD MIL-STD-810 MIL-HDBK-781 Component Ass’y/Set 시험규격

주요 환경시험 규격 1) IEC 규격 2) JIS 규격 3) KS 규격 (2) 신뢰성시험 규격 주요 환경시험 규격 1) IEC 규격 - 일반 : IEC Pub. 60068, Basic Environmental Testing Procedures. ※ 적용 대상: 부품과 장비 모두에 적용. 반도체 디바이스 : IEC Pub. 600749, Semiconductor Devices, Mechanical and Climatic Test Method 2) JIS 규격 - 일반 : JIS C 0010, 환경 시험 방법(전기·전자) 통칙 - 개별반도체 : JIS C 7021, Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices - 집적회로 : JIS C 7022, Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits  3) KS 규격 - 일반 : KS C 0210-0262, 환경 시험 방법 (전기·전자) - 개별반도체 : KS C 6046(1978), 개별 반도체 소자의 환경 시험 방법 및 내구성 시험 방법 - 집적회로 : KS C 6049(1980), 반도체 집적회로의 환경 시험 방법 및 내구성 시험 방법

(2) 신뢰성시험 규격 주요 환경시험 규격 4) MIL 규격 수동소자 : MIL-STD-202, Test Methods for Electronic and Electrical Component Parts. ※ 적용 대상: capacitor, resistor, inductor, switch, relay와 같은 수동소자에 적용 개별 반도체 : · MIL-STD-750, Test Methods for Semiconductor Devices. ※ 적용 대상: Diode, Transistor 등과 같은 개별 반도체 소자에 적용 집적회로 : MIL-STD-883, Test Method and Procedures for Microelectronics. ※ 적용 대상: Multichip, Hybrid Microcircuit 등과 같은 집적회로에 적용. 기기 : MIL-STD-810, Environmental Test Methods and Engineering Guidelines. ※ 적용 대상: 기기(Equipment)에 적용. • MI-HDBK-189, Reliability Growth Management • MI-HDBK-217F, Reliability Prediction of Electronic Equipment • MIL–HDBK–251, Reliability/Design Thermal Applications • MIL–HDBK–338, Electronic Reliability Design Handbook • MIL–HDBK–344, Environmental Stress Screening of Electronic Equipment • MIL–STD–690C, Failure Rate Sampling Plans and Procedures • MIL–HDBK–781, Reliability Test Methods, Plans and Environment for Engineering Development, Qualification and Production • MIL–STD-790F, Reliability Assurance Program for Electronic PartsSpecifications • MIL–HDBK-2155, Failure Reporting, Analysis and Corrective Action System (FRACAS) • MIL–HDBK-2164, Environmental Stress Screening Process for Electronic Equipment

시스템 신뢰도 MIL 규격 시스템 신뢰도와 관련된 미 국방성 문서 신뢰도 설계 MIL-HDBK-251 (2) 신뢰성시험 규격 시스템 신뢰도 MIL 규격 시스템 신뢰도와 관련된 미 국방성 문서 신뢰도 설계 MIL-HDBK-251 개발, 인증, 생산에 대한 신뢰도 시험 방식, 시험방법, 환경 MIL-HDBK-781 신뢰도 설계 및 응용 전자 부품에 대한 신뢰도 보증 프로그램 MIL-STD-790 고장율 샘플링 방식과 절차 MIL-STD-690 기술적 개발, 인증, 생산에 대한 신뢰도 MIL-STD-781 시험 및 샘플링 신뢰도 성장 관리 MIL-HDBK-189 신뢰도 예측 MIL-STD-757 전자 장비의 신뢰도 예측 MIL-HDBK-217 분석 및 예측 시스템 장비의 개발 및 생산에 대한 신뢰도 프로그램 MIL-STD-785 신뢰도와 장비에 대한 용어 정리 MIL-STD -721 신뢰도와 정비 DoDD 5000.xx 프로그램 요구사항

주요 환경시험 규격 5) JEDEC 규격(반도체 디바이스) 6) EIAJ 규격( 반도체 디바이스) (2) 신뢰성시험 규격 주요 환경시험 규격   5) JEDEC 규격(반도체 디바이스) · JESD-22, Test Methods & Procedures for Solid State Devices 6) EIAJ 규격( 반도체 디바이스) · EIAJ ED-4701(1992), Environmental and Endurance Test Methods for Semiconductor Devices

Industry and Military Specified Accelerated Testing Methods (2) 신뢰성시험 규격 Industry and Military Specified Accelerated Testing Methods AUTHORITY STANDARD TEST METHOD TITLE JEDEC JESD-22 22-A100-A Cycled Temperature Humidity Bias Life Test JEDEC JESD-22 22-A101-B Steady State Temperature Humidity Bias Life Test JEDEC JESD-22 22-A102-B Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave JEDEC JESD-22 22-A103-A High Temperature Storage Life JEDEC JESD-22 22-A104-A Temperature Cycling JEDEC JESD-22 22-A105-B Power and Temperature Cycling JEDEC JESD-22 22-A106-A Thermal Shock JEDEC JESD-22 22-A107-A Salt Atmosphere JEDEC JESD-22 22-A108-A Bias Life JEDEC JESD-22 22-A110-B Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) JEDEC JESD-22 22-B103-A Vibration, Variable Frequency JEDEC JESD-22 22-B104-A Mechanical Shock JEDEC JESD-22 22-C100-A High Temperature Continuity IPC TM-650 2.6.5 Physical Shock, Multilayer Printed Wiring Boards IPC TM-650 2.6.6B Temperature Cycling, Printed Wiring Board IPC TM-650 2.6.7A Thermal Shock and Continuity, Printed Board IPC TM-650 2.6.7.1 Thermal Shock--Polymer Solder Mask Coatings IPC TM-650 2.6.7.2 Thermal Shock, Continuity and Microsection, Printed Board IPC TM-650 2.6.9 Vibration, Rigid Printed Wiring IPC TM-650 2.6.13 Assessment of Susceptibility to Metallic Dendritic Growth IPC TM-650 2.6.14A Resistance to Electrochemical Migration, Polymer Solder Mask IPC TM-650 2.6.15B Corrosion, Flux IPC TM-650 2.6.19 Environmental and Insulation Resistance Test of Hybrid Ceramic Multilayer Substrate Boards

Sources for International Testing Standards (2) 신뢰성시험 규격 주요 규격/단체 Sources for International Testing Standards Abbreviation Full name Web-Source ASTM American Society for Testing and Materials www.astm.org MIL-STD Military Standard - Department of Defense, USA www.mil-std-xxx-com * BS British Standard www.bsi.org.com DIN Deutsche Industrienorm - German Industrial Standard www.din.de IEC International Electrotechnical Commission www.iec.ch JIS Japanese Industrial Standards www.jisc.org ISO International Organisation for Standardisation www.iso.ch DEF STAN Defense Standard JEDEC Joint Electron Device Engineering Council www.jedec.org SAE Society of Automotive Engineers www.sae.org UL Underwriters Laboratory Inc. www.ul.com KS Korean Standard www.ksa.or.kr General Source for International Testing Standards www.nssn.org * xxx has to replaced by the number of the standard, e.g. www.mil-std-883.com