MCPD (Multi Channel Photo Detector)

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MCPD (Multi Channel Photo Detector) 光電材料特性量測 MCPD (Multi Channel Photo Detector) 學生: 楊順涵指導老師: 吳坤憲

目錄 MCPD介紹 MCPD應用 MCPD實際測量應用 -穿透率光譜量測參考資料

MCPD介紹 MCPD-3700 多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。最適用於低輝度（0.3cd/m2），如螢光、電漿發光等微弱光以及光源、顯示器量測。 16msec的高速光譜解析。靈活堅固的光纖搭配多元的選配附件，可架設於生產線上、真空環境或嵌入於現有設備中即時性量測。

規格樣式-MCPD

MCPD-7700 功能豐富的超高感度多通道分光光譜儀。可對應微弱光領域的光譜分析。採用更專業的CCD影像感測器，感光能力較 MCPD-3700約高出200~700倍，在微弱光領域亦實現了20~30倍的高信噪比。最適用於低輝度（0.3cd/m2），如螢光、電漿發光等微弱光以及光源、顯示器量測。搭配功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。可架設於生產線上、真空環境或嵌入於現有設備中即時量測。

規格樣式-MCPD

MCPD-9800 高動態範圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品，最適用於量測光通量。有效抑制雜散光，最適合UV光譜分析。相較於歷代分光光度計，雜光率僅約五分之一! 曝光時間5msec~65sec*。適用於量測微弱光源以及架設於生產線上即時檢測等多元應用。經過特殊設計纏繞的光纖，展現穩定的重複再現性量測。小巧輕量化的設計，相較於歷代機型，容積比約減少60%。

規格樣式-MCPD

Measurement Item Luminescence Spectrum Transmission/Absorption Spectrum- Reflection Spectrum Photoluminescence Measurement Total Luminous Flux Light Source Color (Chromaticity, Luminance, Illuminance, CRI) Film Thickness Evaluation

發光光譜量測各種發光物引擎燃燒、燃燒發光、太陽光 (1) 光譜儀 (2) 受光光纖 (3) 受光光纖探測頭(固定套件)

全穿透率量各種濾光片、彩色濾光片、透鏡、薄膜系統架構 (1) 分光光譜儀 (2) 受光光纖 (3) 積分球設備 (4) 量測光源 (5) 投光光纖

反射光譜量測光學材料、儲存材料表面反射率光譜各種玻璃反射率光譜抗反射（AR）膜、蒸鍍膜反射率光譜 (1) 光譜儀 (2) Y型光纖 (3) 量測光源

一般螢光量測各種螢光量測（CRT、PDP、OLED、LED等） LB膜、高分子機能膜 (1) 分光光譜儀 (2) 受光光纖 (3) 聚光元件（顯微鏡裝置） (4) X-Y軸量測平台 (5) 氙燈源（或雷射）

表面色量測各種紙、印刷物、塗料表面色度量測各種材料表面色度量測 (1) 分光光譜儀 (2) 受光光纖 (3) 擴散反射裝置 (4) 量測光源 (5) 投光光纖

色度輝度量測 LCD面板、PDP面板、OLED面板、CRT、映像管、LED 各種光源、燈源 (1) 分光光譜儀 (2) 受光光纖 (3) 測光探頭

膜厚量測半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗佈膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜 (1) 分光光譜儀 (2) Y型光纖 (3) 反射式膜厚量測平台 (4) 量測光源

MCPD實際測量應用 MCPD-3000

穿透率光譜量測 (3) Coated 30 Α *2 Ni (1) 素玻璃 (2) Coated 30 Α Ni (4) 黑布

380~780nm之穿透率

參考資料 http://www.otsuka-tw.com/product/ (大塚科技股份有限公司)