1. Charge identification in Dec. 2004 chamber 歳藤利行 2005.8.8

2. 40 ℃ 38 ℃ 親粒子 Z=6 pl100 pl98 pl97 pl96 gain( パルスハイトのピーク値 ) がばらついている 要補正 プレートごと、エリアごと pl Pl83 より上流は constant Pl90 より上流は constant

3. 補正前 補正後

4. 10→20 プレートの平均 f(pl)=0.041*pl 2 -8.2*pl+const vph40+vph38-f(pl) pos=pl*10+n 570 680 750800 He Li Be BC vph40+vph38-f(pl) pl>60 深さ依存性

5. 40 ℃ 38 ℃ vph40-f(pl)/2vph38-f(pl)/2

6. 40 ℃ 38 ℃ C B Be Li He Plate>70

7. Likelihood function Po( パルスハイト分布の平均 ) σ( パルスハイト分布の拡がり ) パルスハイト 電荷 (Z) の期待値

8. ビーム 2 次粒子 0.01<Θ<0.1 2 次粒子 Θ<0.4 反応に関する トラックすべて